Atomic Force Microscope(AFM)

특징 및 장점 :

Scanning probe microscopy의 하나인 AFM은 시료와 probe사이의 인력에 의한 상호작용을 측정한다.
원자간에 상호 작용하는 힘은 시료의 전기적 성질에 관계없이 항상 존재하므로 원자현미경은 도체나 부도체 모두를 높은 분해능으로 관찰 할 수 있으며, 일단 AFM 영상이 얻어지면 위에서 본 형상뿐 아니라 각 부분의 단면도, 입체도 및 각종 통계자료를 얻을 수 있다.
AFM은 contact mode와 non-contact mode 두 가지로 사용되며, non-contact mode는 시료의 손상을 줄일 수 있다.

Model(제조사) :

Quartz Crystal Microbalance(QCA917)

특징 및 장점 :

- 수정 진동자 미량저울 (Quartz Crystal Microbalance)은 수정진동자의 공진 주파수 변화를 측정하여 미세한 질량변화를 알아내는 도구로서 전기화학적 분석법과 같이 이용할 경우 전해반응으로 일어나는 용액 상에 있는 전극면의 질량변화를 ng단위까지 측정할 수 있다.

Moel(제조사) :
- QCA917(Seiko)

ATMOS CHAMBER

특징 및 장점 :

- 온도(-20℃ ~ 105℃)/습도(0 %RH ~ 99%RH) 제어가능
- preset / user manual 기능으로 실험조건 자동제어 가능

Model(제조사) :
- MTH-2200(SANYO)

Video Microscope System

특징 및 장점 :

- 실험과정을 동화상 및 정지화상으로 저장가능
- 80배부터 800배까지 다양한 배율
- Contact / Non-Contact 방식 사용가능
- Stage View에 Sample을 고정시키는 비접촉 방식에 의한 촬영은 물론, Hand Piece만으로 Sampling 작업없이 완제품 상태에서 접촉방식으로 촬영이 가능
- Fiber Optic 냉광조명에 의해 시료의 변형을 방지

Model(제조사) :
- S/V32(Sometech)

Potentiostat

특징 및 장점 :

- 광범위한 전류범위와 전압 제어가능
- 주로 QCM과 함께 EQCM(Electrochemical Quartz Crystal Microbalance)으로 사용
- EQCM은 QCM의 한 전극면을 작업전극으로 하여 전기화학적 반응과정 중 물질이동을 연구할 수 있도록 고안한 장치로서, EQCM에서 수정진동자는 전기화학적 반응에 의한 전류를 감지하는 전기화학 전극과 그 표면 근처에서의 물질이동에 대한 진동주파수 변화를 감지하는 진동발진자등 2가지 기능을 갖는다. 그러므로 EQCM은 전극 표면에서의 산화-환원쌍의 전기화학적 성질 뿐만 아니라 전극 근처에서의 물질이동에 대한 정보도 얻을 수 있다.

Model(제조사) :
- HAB-151(HOKUTO DENKO)[上] / VER11(EG&G PARC)[下]